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產(chǎn)品資料

穩(wěn)科3255BQ電感測(cè)試儀1MHz LCR

產(chǎn)品型號(hào)：1J3255BQ

產(chǎn)品展商：

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

電感測(cè)試儀1J3255BQ 頻率范圍 20Hz - 1MHz

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電感測(cè)試儀相關(guān)介紹：

1J3255BL 頻率范圍 20Hz - 200kHz

1J3255B 頻率范圍 20Hz - 500kHz
1J3255BQ 頻率范圍 20Hz - 1MHz

0.1%基本精度（英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)）
DC Bias(直流偏壓)*高可到125A(Option)

四線式測(cè)試，可**測(cè)量極低的Rdc、Rs、L和精準(zhǔn)Q

可內(nèi)建1Amp或2Amp DC Bias
多頻率自動(dòng)測(cè)試模式
多點(diǎn)DC Bias掃頻功能
涵蓋各式測(cè)量參數(shù)：Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(品質(zhì)因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻)
人性化直覺式操作介面,簡(jiǎn)單易懂
測(cè)試結(jié)果列印
可透過IEEE488連線控制

測(cè)試夾具選擇

	1J1020		1J1022		1J1011
介電常數(shù)測(cè)試治具（40MHz）		液體介電常數(shù)測(cè)試治具（30MHz）		二線制DIP測(cè)試治具（120MHz）
	1J1012		1J1024		1J1011W
二線制SMD測(cè)試治具（彈片型）（120MHz）		二線制SMD測(cè)試治具（探針型）（120MHz）		四線制DIP 測(cè)試治具 (120MHz)
	1J1014		1J1015		1J10154
四線制SMD測(cè)試治具（120MHz）		二線制DIP高電流測(cè)試治具（125A）（3MHz）		四線制DIP高電流測(cè)試治具（125A）（3MHz）
	1J1016		1J10164		1J1023
二線制SMD高電流測(cè)試治具（125A）（3MHz）		四線制DIP高電流測(cè)試治具（125A）（3MHz）		四線制轉(zhuǎn)二線制高頻轉(zhuǎn)接頭（120MHz）
	1J1025		1J1032		1J10324
探針式測(cè)量治具（120MHz）		二線制SMD底部電極測(cè)試夾具		四線制SMD底部電極測(cè)試夾具
	1J1026		1J1027		1J1028
二線制DIP高電流測(cè)試治具（20A）（120MHz）		二線制DIP高電流測(cè)試治具（40A）（120MHz）		二線制DIP高電流測(cè)試治具（80A）（120MHz）
	1J10264		1J10284		1J1036
四線制DIP高電流測(cè)試治具（20A）（120MHz）		四線制DIP高電流測(cè)試治具（60A）（120MHz）		二線制DIP高電流測(cè)試治具（250A）
	1J10362		1J1100		1J1031
四線制DIP高電流測(cè)試治具（250A）		電容充放電保護(hù)單元（3MHz）		高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉(zhuǎn)接座（120MHz）
	1J1037		1J1001		1J1002
偏置電流夾具適配器		四轉(zhuǎn)一測(cè)試夾具（120MHz）		四轉(zhuǎn)二測(cè)試夾具（120MHz）
	1EV1006		1EV1505		1EV1905A
四線式DIP測(cè)試治具 (1MHz)		四線式測(cè)試夾具 (3MHz)		兩線式探針型高頻測(cè)試線 (50MHz)
	1EV1905X		1EVA40100		1EVA40120
兩線式探針型高頻測(cè)試線SMD (50MHz)		精密型測(cè)試夾具 (3MHz)		SMD鑷子式高精密測(cè)試夾具 (3MHz)
	1EVA40125		1EVA40150		1EVA40180
SMD鑷子式高精密測(cè)試夾具 (120MHz)		鑷子式高精密測(cè)試夾具（尖型） (3MHz)		鑷子式高精密測(cè)試夾具（大型） (3MHz)